加特兰微电子

质量管理体系质量流程功能安全可靠性网络安全信息安全 ASPICE 产品安全漏洞

加特兰自2018年以来便已获得国际标准化组织（ISO）质量管理体系（ISO 9001）认证。ISO 9001认证代表了国际上对质量管理最佳实践的认可，也是加特兰践行国际质量标准的承诺。

以下提供了SGS颁发的证书：

ISO 9001:2015 质量管理体系证书

加特兰致力于芯片设计；芯片的制造和检测则交给专业的供应商（工厂），包括晶圆厂、封装厂以及测试厂等。加特兰给客户提供的高质量芯片离不开与所有供应商的紧密协作。

加特兰对供应商的选择严谨且审慎。目前，所有负责加特兰芯片制造和检测的供应商（工厂）都通过了以下体系认证：

ISO 9001
IATF 16949
ISO 14001
ISO 45001

质量方针和通用质量指南
产品变更通知
供应商质量支持
持续改善
失效分析

质量方针和通用质量指南

加特兰的质量方针：质量为先，科技致善。

《加特兰通用质量指南》旨在向客户提供全面清晰的质量及其可靠性问题的解答和对应。

产品变更通知

加特兰遵守J-STD-046标准的要求，针对影响到产品外观、适用性、功能或者对产品质量和可靠性产生影响的重大变更，在变更正式实施前的九十天内，通过产品变更通知与客户进行沟通。

产品变更通知的内容至少包括：

产品变更通知的跟踪号
加特兰联系人信息
受影响的产品信息
变更内容描述
变更原因
变更影响
变更验证计划和结果
样片供应日期
预计生产发货日期

对于车规芯片的产品变更通知，加特兰遵循 AEC-Q100 修订版 H 中的要求，并且正在开发符合 ZVEI 规定的流程。

产品停产通知

加特兰遵守J-STD-048标准的要求，在正式发布产品停产通知后的十二个月之内，客户可以要求交付所订购的停产的产品。

供应商质量支持

为了向客户提供高质量的产品和服务，作为一家芯片设计公司，晶圆厂、封装厂、测试厂等主要的供应商工厂对加特兰的质量支持至关重要。

加特兰配有专门的生产技术中心团队，推动供应商响应我们的技术要求和质量期望，督促供应商对产品和流程进行系统性的持续改进，旨在持续打造一条稳定、高效、可靠的供应链。

对一级供应商（晶圆厂、封装厂、测试厂等）的最低要求

ISO 9001质量体系认证
生产车规级芯片需要满足IATF 16949认证
同类产品的量产经验
符合加特兰的管理要求
符合要求的变更管理
有效的二级供应商管控
客户投诉的快速响应
持续改善

对关键二级供应商（一级供应商的供应商，芯片关键原材料）的最低要求

ISO 9001质量体系认证
生产车规级芯片需要满足IATF 16949认证
符合加特兰的管理要求

供应商质量管理的工具

质量协议
供应商导入审核
供应商的生产数据监控
供应商月度/季度绩效管理
供应商年度体系及现场审核

持续改善

持续改善的理念一直伴随着加特兰的成长。对产品及服务质量的精益求精、不断改进是加特兰对客户的承诺。加特兰携手供应商工厂，通过PDCA的方法，致力于持续提供给客户更好的产品和服务。

加特兰及供应商工厂的持续改善工具：

项目经验教训知识库
内部审核
管理评审
客户审核
第三方审核
供应商绩效管理
供应商年审

失效分析

失效分析（Failure Analysis or FA）主要是通过电性或物理手段，对失效芯片或模组分析失效的根因，以此确保新产品顺利导入量产，并持续改善量产产品的功能和品质。

加特兰有着经验丰富的芯片产品工程团队，并与业内顶尖的第三方FA实验室建立了密切的合作关系，可高效准确地完成失效分析。

失效分析流程

1、背景信息收集

工程人员得到失效产品后，会第一时间确认客户端或下游应用端的失效反馈，在实验室尝试复现失效问题，并对样品做引脚修复等作业，为进一步FA分析做准备。

此阶段我们会收集如下信息：

失效芯片发现时间、站点、数量以及批次信息
失效现象或功能异常描述
失效芯片或模组现场检查记录，如外观照片、X-Ray等

2、电性分析

此阶段我们会通过ATE、I/V curve等电性测试手段，甄别和定位失效模块。

3、非破坏性失效分析

在确定失效模块后，针对失效模块做针对性的无损分析，确认失效位置外部封装电路或外观是否存在缺陷。

4、破坏性失效分析

在非破坏性失效分析没有找到问题点的情况下，剥离封装、针对硅芯片做进一步分析。

具体分析手法如在硅芯片对应IO PAD端加一定的信号激励，通过特殊机台探查芯片内部是否存在缺陷信号。随后对缺陷信号位置进行去层切片，通过电子显微镜或物质成分分析的方式探查是否存在物理缺陷。

5、失效分析报告

最后，根据失效分析结果，总结出改善方案，避免后续产品的潜在失效风险。

除了ISO 9001质量管理流程，我们的功能安全产品开发流程还按照ISO 26262的要求进行了匹配裁剪，按照V模型分层级开发和验证，并邀请德国莱茵TÜV集团对流程进行认证，以期更好的实施功能安全管理。

此图像的alt属性为空；文件名为企业微信截图_20230625213615-3-725x1024.png

图1. 加特兰功能安全管理体系认证（ASIL-D）

加特兰严格按照安全管理流程，开发符合ISO 26262标准的雷达芯片产品。例如，Alps系列雷达芯片经过了德国莱茵TÜV的严格审核评估，是国内首个完全符合ISO 26262并通过第三方认证的芯片。我们确信，我们的产品可以极大帮助客户实现ADAS系统的安全目标，快速通过更高级别的安全评估，加速产品导入和装车量产。

图2. Alps系列产品功能安全认证证书（ASIL-B）

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产品系列：

Alps Alps-Pro Rhine Rhine-Mini Yellowstone Yosemite

封装集成片上天线 (AiP)：

否是

料号：

CAL60A2T4R CAL60S244-IB CAL60S244-IE CAL60S322-IC CAL60S322-ID CAL77A2T4R CAL77A4T8R CAL77S224-AE CAL77S244-AB CAL77S244-AE CAL77S244-IB CAL77S344-AE

已选：

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认证摘要

产品系列	封装集成片上天线 (AiP)	料号	测试项	参考标准	结果
Alps-Pro	否	CAL77S344-AE	预处理	JESD22-A113	通过
			预处理	J-STD-020	通过
			偏压高加速应力测试（通电）	JESD22-A110	通过
			无偏压加速应力测试（不通电）	JESD22-A118	通过
			温度循环	JESD22-A104	通过
			功率温度循环	JESD22-A105	通过
			高温储存	JESD22-A103	通过
			高温工作寿命	JESD22-A108	通过
			早夭失效率	AEC-Q100-008	通过
			人体放电模型	AEC-Q100-002	通过
			带电器件模型	AEC-Q100-011	通过
			闩锁效应	AEC-Q100-004	通过
Alps	是	CAL77S244-IB	预处理	JESD22-A113	通过
			预处理	J-STD-020	通过
			偏压高加速应力测试（通电）	JESD22-A110	通过
			无偏压加速应力测试（不通电）	JESD22-A118	通过
			温度循环	JESD22-A104	通过
			功率温度循环	JESD22-A105	通过
			高温储存	JESD22-A103	通过
			高温工作寿命	JESD22-A108	通过
			早夭失效率	AEC-Q100-008	通过
			人体放电模型	AEC-Q100-002	通过
			带电器件模型	AEC-Q100-011	通过
			闩锁效应	AEC-Q100-004	通过
Alps	是	CAL77S244-AB	预处理	JESD22-A113	通过
			预处理	J-STD-020	通过
			偏压高加速应力测试（通电）	JESD22-A110	通过
			无偏压加速应力测试（不通电）	JESD22-A118	通过
			温度循环	JESD22-A104	通过
			功率温度循环	JESD22-A105	通过
			高温储存	JESD22-A103	通过
			高温工作寿命	JESD22-A108	通过
			早夭失效率	AEC-Q100-008	通过
			人体放电模型	AEC-Q100-002	通过
			带电器件模型	AEC-Q100-011	通过
			闩锁效应	AEC-Q100-004	通过
Alps	否	CAL77S244-AE	预处理	JESD22-A113	通过
			预处理	J-STD-020	通过
			偏压高加速应力测试（通电）	JESD22-A110	通过
			无偏压加速应力测试（不通电）	JESD22-A118	通过
			温度循环	JESD22-A104	通过
			功率温度循环	JESD22-A105	通过
			高温储存	JESD22-A103	通过
			高温工作寿命	JESD22-A108	通过
			早夭失效率	AEC-Q100-008	通过
			人体放电模型	AEC-Q100-002	通过
			带电器件模型	AEC-Q100-011	通过
			闩锁效应	AEC-Q100-004	通过
Alps	否	CAL77S224-AE	预处理	JESD22-A113	通过
			预处理	J-STD-020	通过
			偏压高加速应力测试（通电）	JESD22-A110	通过
			无偏压加速应力测试（不通电）	JESD22-A118	通过
			温度循环	JESD22-A104	通过
			功率温度循环	JESD22-A105	通过
			高温储存	JESD22-A103	通过
			高温工作寿命	JESD22-A108	通过
			早夭失效率	AEC-Q100-008	通过
			人体放电模型	AEC-Q100-002	通过
			带电器件模型	AEC-Q100-011	通过
			闩锁效应	AEC-Q100-004	通过
Rhine-Mini	是	CAL60S322-IC	预处理	JESD22-A113	通过
			预处理	J-STD-020	通过
			偏压高加速应力测试（通电）	JESD22-A110	通过
			无偏压加速应力测试（不通电）	JESD22-A118	通过
			温度循环	JESD22-A104	通过
			功率温度循环	JESD22-A105	通过
			高温储存	JESD22-A103	通过
			高温工作寿命	JESD22-A108	通过
			早夭失效率	AEC-Q100-008	通过
			人体放电模型	AEC-Q100-002	通过
			带电器件模型	AEC-Q100-011	通过
			闩锁效应	AEC-Q100-004	通过
Rhine-Mini	是	CAL60S322-ID	预处理	JESD22-A113	通过
			预处理	J-STD-020	通过
			偏压高加速应力测试（通电）	JESD22-A110	通过
			无偏压加速应力测试（不通电）	JESD22-A118	通过
			温度循环	JESD22-A104	通过
			功率温度循环	JESD22-A105	通过
			高温储存	JESD22-A103	通过
			高温工作寿命	JESD22-A108	通过
			早夭失效率	AEC-Q100-008	通过
			人体放电模型	AEC-Q100-002	通过
			带电器件模型	AEC-Q100-011	通过
			闩锁效应	AEC-Q100-004	通过
Rhine	否	CAL60S244-IE	预处理	JESD22-A113	通过
			预处理	J-STD-020	通过
			偏压高加速应力测试（通电）	JESD22-A110	通过
			无偏压加速应力测试（不通电）	JESD22-A118	通过
			温度循环	JESD22-A104	通过
			功率温度循环	JESD22-A105	通过
			高温储存	JESD22-A103	通过
			高温工作寿命	JESD22-A108	通过
			早夭失效率	AEC-Q100-008	通过
			人体放电模型	AEC-Q100-002	通过
			带电器件模型	AEC-Q100-011	通过
			闩锁效应	AEC-Q100-004	通过
Rhine	是	CAL60S244-IB	预处理	JESD22-A113	通过
			预处理	J-STD-020	通过
			偏压高加速应力测试（通电）	JESD22-A110	通过
			无偏压加速应力测试（不通电）	JESD22-A118	通过
			温度循环	JESD22-A104	通过
			功率温度循环	JESD22-A105	通过
			高温储存	JESD22-A103	通过
			高温工作寿命	JESD22-A108	通过
			早夭失效率	AEC-Q100-008	通过
			人体放电模型	AEC-Q100-002	通过
			带电器件模型	AEC-Q100-011	通过
			闩锁效应	AEC-Q100-004	通过
Yellowstone	否	CAL60A2T4R	预处理	JESD22-A113	通过
			预处理	J-STD-020	通过
			偏压高加速应力测试（通电）	JESD22-A110	通过
			无偏压加速应力测试（不通电）	JESD22-A118	通过
			温度循环	JESD22-A104	通过
			功率温度循环	JESD22-A105	通过
			高温储存	JESD22-A103	通过
			高温工作寿命	JESD22-A108	通过
			早夭失效率	AEC-Q100-008	通过
			人体放电模型	AEC-Q100-002	通过
			带电器件模型	AEC-Q100-011	通过
			闩锁效应	AEC-Q100-004	通过
Yosemite	否	CAL77A4T8R	预处理	JESD22-A113	通过
			预处理	J-STD-020	通过
			偏压高加速应力测试（通电）	JESD22-A110	通过
			无偏压加速应力测试（不通电）	JESD22-A118	通过
			温度循环	JESD22-A104	通过
			功率温度循环	JESD22-A105	通过
			高温储存	JESD22-A103	通过
			高温工作寿命	JESD22-A108	通过
			早夭失效率	AEC-Q100-008	通过
			人体放电模型	AEC-Q100-002	通过
			带电器件模型	AEC-Q100-011	通过
			闩锁效应	AEC-Q100-004	通过
Yosemite	否	CAL77A2T4R	预处理	JESD22-A113	通过
			预处理	J-STD-020	通过
			偏压高加速应力测试（通电）	JESD22-A110	通过
			无偏压加速应力测试（不通电）	JESD22-A118	通过
			温度循环	JESD22-A104	通过
			功率温度循环	JESD22-A105	通过
			高温储存	JESD22-A103	通过
			高温工作寿命	JESD22-A108	通过
			早夭失效率	AEC-Q100-008	通过
			人体放电模型	AEC-Q100-002	通过
			带电器件模型	AEC-Q100-011	通过
			闩锁效应	AEC-Q100-004	通过

平均无故障时间、时基故障

料号	平均故障间隔时间（小时）	时基故障	样本大小	置信度（%）	使用结温（°C）	测试结温（°C）	激活能量（eV）
CAL77S344-AE	14,458,308	69	2720	60	83	125	0.7
CAL77S244-IB	6,700,000	148	2800	60	87	125	0.7
CAL77S244-AB	6,700,000	148	2800	60	87	125	0.7
CAL77S244-AE	6,700,000	148	2800	60	87	125	0.7
CAL77S224-AE	6,700,000	148	2800	60	87	125	0.7
CAL60S322-IC	6,700,000	148	2800	60	87	125	0.7
CAL60S322-ID	6,700,000	148	2800	60	87	125	0.7
CAL60S244-IE	6,700,000	148	2800	60	87	125	0.7
CAL60S244-IB	6,700,000	148	2800	60	87	125	0.7
CAL60A2T4R	7,900,000	127	3120	60	87	125	0.7
CAL77A4T8R	7,900,000	127	3120	60	87	125	0.7
CAL77A2T4R	7,900,000	127	3120	60	87	125	0.7

湿敏等级

料号	湿敏等级
CAL77S344-AE	等级-3-260°C-168小时
CAL77S244-IB	等级-3-260°C-168小时
CAL77S244-AB	等级-3-260°C-168小时
CAL77S244-AE	等级-3-260°C-168小时
CAL77S224-AE	等级-3-260°C-168小时
CAL60S322-IC	等级-3-260°C-168小时
CAL60S322-ID	等级-3-260°C-168小时
CAL60S244-IE	等级-3-260°C-168小时
CAL60S244-IB	等级-3-260°C-168小时
CAL60A2T4R	等级-2-260°C-1年
CAL77A4T8R	等级-2-260°C-1年
CAL77A2T4R	等级-2-260°C-1年

随着智能网联汽车的加速发展，智能汽车网络安全问题已越来越成为行业关注的焦点。加特兰微电子在国内率先建立了符合ISO 21434的网络安全管理流程，包括发现威胁、防御攻击、闭环检测和应急处置，支持和保障客户产品的网络安全。该流程已通过德国莱茵TÜV评估，并取得认证证书。

随着全球信息安全威胁加剧，为保护企业核心竞争能力、提升国内外客户和合作伙伴的信任，加特兰微电子建立了符合ISO 27001的信息安全管理体系，并通过了汽车行业权威认证机构德国莱茵TÜV集团评估，取得认证证书。加特兰围绕“遵守法律、数据保密、信息完整、控制风险、持续改进”的信息安全方针，实现了信息安全风险的识别、评估与控制，确保经营的连续性，并不断寻求提升和完善，以应对日益复杂多变的信息安全挑战。

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信息安全事宜联络邮箱地址：is@calterah.com

在软件定义汽车发展趋势下，ASPICE（Automotive Software Process Improvement and Capability dEtermination，汽车软件过程改进及能力评定）作为汽车行业重要的软件质量标准，已成为全球汽车厂商供应链体系的准入标准之一。加特兰Alps-Pro AUTOSAR项目通过ASPICE CL2（Capability Level 2）评估，标志着加特兰已形成一套完备且高效的标准化汽车软件开发和管理流程。加特兰将继续通过ASPICE理念不断规范化研发流程，持续优化研发流程的效率、迭代能力及可复用性等方面，最终为用户提供更高质量、更有竞争力的产品。

加特兰产品安全事件响应团队（PSIRT）负责接受和响应关于加特兰产品的安全漏洞报告。

安全漏洞报告处理流程

安全漏洞报告的处理流程如下：

加特兰确认收到您的报告并进行处理。
加特兰评估安全漏洞的风险和影响。
加特兰采取措施以减轻已验证安全漏洞的影响。
如果适当，加特兰将在过去的漏洞披露列表部分披露产品漏洞。

安全事件范围

PSIRT处理的案例范围包括：

涉及加特兰产品的安全事件
安全相关的加特兰文档中的缺陷
在不应该出现的地方找到的安全相关的加特兰文档或信息
在不应该出现的地方找到的安全相关的加特兰产品

报告安全漏洞

如果您发现我们的产品中存在潜在的安全漏洞，请向加特兰PSIRT发送报告。您可以将安全漏洞报告发送至psirt@calterah.com。我们尽量在1个工作日内回复。

请用中文或英语报告，并提供以下详细信息，以帮助我们对漏洞进行技术分析：

加特兰可能受影响的硬件或软件产品（包括版本或修订版）
如何以及何时发现的潜在漏洞，以及发现人
潜在漏洞的技术描述
攻击路径的技术描述
缓解措施建议或其他有用的建议
您的联系信息，例如电子邮件地址，以便加特兰提出任何必要的后续问题

漏洞信息非常敏感。加特兰PSIRT强烈建议在提交之前，使用PSIRT PGP/GPG密钥加密安全漏洞报告：

指纹：E95F 7D0B 6088 0E83 7F3B 4622 6DAB 53B1 39D9 3A00
公钥文件

您可以使用以下软件来阅读和创建PGP/GPG加密的消息：

GnuPG

过去的漏洞披露列表

无