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质量方针和通用质量指南
加特兰的质量方针:质量为先,科技致善。
《加特兰通用质量指南》旨在向客户提供全面清晰的质量及其可靠性问题的解答和对应。
产品变更通知
加特兰遵守J-STD-046标准的要求,针对影响到产品外观、适用性、功能或者对产品质量和可靠性产生影响的重大变更,在变更正式实施前的九十天内,通过产品变更通知与客户进行沟通。
产品变更通知的内容至少包括:
对于车规芯片的产品变更通知,加特兰遵循 AEC-Q100 修订版 H 中的要求,并且正在开发符合 ZVEI 规定的流程。
产品停产通知
加特兰遵守J-STD-048标准的要求,在正式发布产品停产通知后的十二个月之内,客户可以要求交付所订购的停产的产品。
供应商质量支持
为了向客户提供高质量的产品和服务,作为一家芯片设计公司,晶圆厂、封装厂、测试厂等主要的供应商工厂对加特兰的质量支持至关重要。
加特兰配有专门的生产技术中心团队,推动供应商响应我们的技术要求和质量期望,督促供应商对产品和流程进行系统性的持续改进,旨在持续打造一条稳定、高效、可靠的供应链。
对一级供应商(晶圆厂、封装厂、测试厂等)的最低要求
对关键二级供应商(一级供应商的供应商,芯片关键原材料)的最低要求
供应商质量管理的工具
持续改善
持续改善的理念一直伴随着加特兰的成长。对产品及服务质量的精益求精、不断改进是加特兰对客户的承诺。加特兰携手供应商工厂,通过PDCA的方法,致力于持续提供给客户更好的产品和服务。
加特兰及供应商工厂的持续改善工具:
失效分析
失效分析(Failure Analysis or FA)主要是通过电性或物理手段,对失效芯片或模组分析失效的根因,以此确保新产品顺利导入量产,并持续改善量产产品的功能和品质。
加特兰有着经验丰富的芯片产品工程团队,并与业内顶尖的第三方FA实验室建立了密切的合作关系,可高效准确地完成失效分析。
失效分析流程
1、背景信息收集
工程人员得到失效产品后,会第一时间确认客户端或下游应用端的失效反馈,在实验室尝试复现失效问题,并对样品做引脚修复等作业,为进一步FA分析做准备。
此阶段我们会收集如下信息:
2、电性分析
此阶段我们会通过ATE、I/V curve等电性测试手段,甄别和定位失效模块。
3、非破坏性失效分析
在确定失效模块后,针对失效模块做针对性的无损分析,确认失效位置外部封装电路或外观是否存在缺陷。
4、破坏性失效分析
在非破坏性失效分析没有找到问题点的情况下,剥离封装、针对硅芯片做进一步分析。
具体分析手法如在硅芯片对应IO PAD端加一定的信号激励,通过特殊机台探查芯片内部是否存在缺陷信号。随后对缺陷信号位置进行去层切片,通过电子显微镜或物质成分分析的方式探查是否存在物理缺陷。
5、失效分析报告
最后,根据失效分析结果,总结出改善方案,避免后续产品的潜在失效风险。